Ion Beam Techniques for the Analysis of Light Elements in Thin Films, Including Depth Profiling

Paperback Engels 2004 9789201104045
Verwachte levertijd ongeveer 16 werkdagen

Specificaties

ISBN13:9789201104045
Taal:Engels
Bindwijze:paperback
Aantal pagina's:278

Lezersrecensies

Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!

Managementboek Top 100

Rubrieken

    Personen

      Trefwoorden

        Ion Beam Techniques for the Analysis of Light Elements in Thin Films, Including Depth Profiling